日本ATTO株式会社 用于印迹的PVDF膜“Criablot P膜(低荧光)”  2322505/WSE-4060

日本ATTO株式会社 用于印迹的PVDF膜“Criablot P膜(低荧光)”  2322505/WSE-4060 2322506/WSE-4061 2322508/WSE-4063 2322507/WSE-4064
ブロッティング用PVDF膜
特点
● 吸附力强,在低背景下实现高信噪比
● 耐化学性、高强度的荧光检测用PVDF膜
● 低分子也安心的0.2μm孔径
● 已切割成各种凝胶尺寸
规格
● 材质・孔直径:PVDF(polyvinylidenedifluoride)0.2μm